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半導體功率循環(huán)測試數(shù)據(jù)采集卡
概述： A400數(shù)據(jù)采集卡，是一款普賽斯自主設計開發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲的高精度數(shù)據(jù)采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達16bits，z高支持1MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間
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2025-06-09 |
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半導體電學特性測試系統(tǒng)CV+IV測試儀
概述： SPA-6100半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高
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2025-06-09 |
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功率半導體器件CV測試系統(tǒng)
功率器件CV測試系統(tǒng)方案 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責提供可調(diào)直流電壓偏置，通過矩陣開關加載在待測件上。
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2025-06-09 |
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igbt測試設備igbt測試儀
普賽斯igbt測試設備igbt測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容
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2025-06-09 |
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國產(chǎn)精密電流源+源表廠家
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高
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2025-06-09 |
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半導體性能測試數(shù)字源表SMU源表
半導體性能測試數(shù)字源表SMU源表認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測
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2025-06-09 |
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霍爾延時響應測試系統(tǒng)電流傳感器測試設備
產(chǎn)品簡介 霍爾延時響應測試系統(tǒng)電流傳感器測試設備集多種測量和分析功能一體，可精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不
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2025-06-09 |
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1200V+100A半導體參數(shù)分析儀CV+IV掃描儀
概述： SPA-6100型1200V+100A半導體參數(shù)分析儀CV+IV掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電
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2025-06-09 |
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